2ª Edición del curso Bases y Aplicaciones de la difracción de polvo: Análisis cuantitativo, microestructural y método Rietveld.

>2ª Edición del curso Bases y Aplicaciones de la difracción de polvo: Análisis cuantitativo, microestructural y método Rietveld.
Del 17 al 20 de septiembre de 2018

El objetivo principal de este curso es ofrecer una formación especializada en el uso de métodos de análisis avanzados de difracción de rayos X de polvo mediante el uso del software TOPAS 6.0, aplicándose a la resolución de diferentes problemas de caracterización y análisis mediante difracción de polvo.

 

Instituciones participantes/organizadoras:

Laboratorio de Estudios Cristalográficos (IACT, CSIC-UGR) - Granada

2018-09-14T22:04:31+00:0014 julio 2018|